喇曼光谱方法测量金属表面氧化膜的残余应力

• 作 者: 李美栓 辛丽
• 机 构: 中国科学院金属腐蚀与防护研究所
• 出 处: 中国腐蚀与防护学报
• 发表日期: 1999年3期
• 关键词: 氧化膜 残余应力 激光喇曼 高温氧化 测量 Oxide scale Residual stress Raman spectroscopy Oxidatio
• 基金项目: 国家自然科学基金!59701010

利用表面增强激光喇曼光谱仪测量Ｆｅｃｒａｌｌｏｙ（Ｆｅ－２２Ｃｒ－５Ａｌ－０．３Ｙ）合金表面Ａｌ２Ｏ３膜及Ｃｏ－４０Ｃｒ合金表面Ｃｒ２Ｏ３膜的残余应力，实验条件下，两种氧化膜残余应力值分别为２ＧＰａ和１．７ＧＰａ，如果Ｃｏ－４０Ｃｒ合金离注入３×１０＾１７Ｙ＋／ｃｍ＾２，Ｃｒ２Ｏ３膜发生破裂，Ｃｒ２Ｏ３膜的残余应力值显著降低，该测试方法简便，并可用于测量氧化膜内微区应力区应力分布，还可实现高温下原