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针对LED陶瓷基板在制造环节中常见的划痕、污渍等缺陷易漏检误检测等问题,利用HALCON机器视觉算法包,基于模板匹配方法对各LED陶瓷基板单元图像进行定位,并结合大津法和连通域分析实现LED陶瓷基板单元的图像分割,最后结合差分、滤波算法和几何特征实现对LED基板的划痕和污渍等缺陷检测,并通过C#和HALCON的混合编程实现。