【摘 要】
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单粒子翻转(SEU)是影响空间电子设备可靠性的重要因素,本文提出了一种SEU甄别与定位技术方法,研制了原理样机.硅探测器与辐照敏感器件在垂直方向相互临近安装,粒子入射到硅探测器的位置区域与目标辐照器件单粒子翻转的物理位置相对应.采用波形数字化技术实现了多道粒子甄别与能量信号测量,通过数据回读比较法实现了SRAM器件翻转逻辑定位检测.根据实验室测试和单粒子辐照试验结果,可探测高能粒子的LET≥6.06×10-3 MeV?cm2/mg,入射粒子的位置分辨率优于5 mm,最大计数率≥10000 s-1,SRAM
【机 构】
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兰州空间技术物理研究所,甘肃 兰州 730000;北京空间飞行器总体设计部,北京 100094;成都理工大学,四川 成都 610059
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单粒子翻转(SEU)是影响空间电子设备可靠性的重要因素,本文提出了一种SEU甄别与定位技术方法,研制了原理样机.硅探测器与辐照敏感器件在垂直方向相互临近安装,粒子入射到硅探测器的位置区域与目标辐照器件单粒子翻转的物理位置相对应.采用波形数字化技术实现了多道粒子甄别与能量信号测量,通过数据回读比较法实现了SRAM器件翻转逻辑定位检测.根据实验室测试和单粒子辐照试验结果,可探测高能粒子的LET≥6.06×10-3 MeV?cm2/mg,入射粒子的位置分辨率优于5 mm,最大计数率≥10000 s-1,SRAM器件的SEU巡检周期时间分辨率为13.76 ms.通过掌握大容量SRAM型器件的SEU甄别与定位及其辐射环境感知能力,有助于提升空间电子设备的在轨工作性能.
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