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本文通过不同淬火温度和不同激振时间对Cu-Zn-Al形状记忆合金耗影响的研究,探讨了晶体缺陷在合金内耗中的作用。结果表明:一定数量的缺陷将会引起内耗值的提高,Cu-Zn-Al合金作为阻尼材料在使用过程中由于缺陷增多阻尼性能虽有所降低,但长时间后仍有相当高的内耗值(Q~-1～5×10~-2),因此有较高的使用价值。