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本文提出以Ｘ射线荧光光谱法测定硅藻土中Ｓｉ、Ａｌ、Ｆｅ、Ｃａ、Ｍｇ等主元素，采用系列硅藻土参考样建立标准曲线，粉末压片、Ｍｙｌａｒ膜覆盖制样。实验表明，本法的重现性好，各元素的变异系数优于３％，而１０个硅藻土未知样的测定结果与化学值吻合，显示其准确度好。与熔融法及以地质国标建立标准曲线的粉末法相比，本法具有简便、快速、精密度及准确度好等优点，可用于硅藻土选矿流程分析。