基于放电紫外成像特征的污秽线路盘形绝缘子绝缘状态评估

• 作 者: 王胜辉 牛雷雷 李浩 胡伟涛
• 出 处: 高压电器
• 发表日期: 2004年期
• 关键词: 线路盘形绝缘子 污秽放电 紫外成像 光斑面积序列 绝缘状态 聚类分析
• 基金项目: 中央高校基本科研业务费专项资金(2015ZD19)~~

ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清华大学发明人:隋森芳文摘:本发明属于生物技术领域,包括主机、控制电路和计算机三部分组成,主机包括由棱镜。敏感膜敏感芯片、半导

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