用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究

• 作 者: 成玉 马安国 蒋江 唐遇星 张民选
• 机 构: 国防科学技术大学计算机学院
• 出 处: 电子与信息学报
• 发表日期: 2011年11期
• 关键词: 软错误 体系结构弱点因子(AVF) 混合AVF评估策略(HAES) 低开销容错 Soft errors Architectural Vulnerability
• 基金项目: 国家自然科学基金（60873016 60970036）, 国家863计划项目（2009AA01Z124 2009AA01Z102）资助课题

低开销容错技术是当前软错误研究领域的热点。为了对微处理器进行低开销容错保护,首先就需要对微处理器可靠性(即体系结构弱点因子AVF(Architectural Vulnerability Factor))进行准确评估。然而,现有的AVF评估工具的精确性和适用范围都受到不同程度的限制。该文以微处理器上的核心部件(即存储部件)作为研究对象,对AVF评估方法进行改进,提出了一种访存操作分析和指令分析相结合的AVF评估策略HAES(Hybrid AVFEvaluation Strategy)。该文将HAES融