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针对国内外高速误码测试仪价格昂贵、系统复杂的现状，采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratories公司生产的XFP收发芯片Si5040，设计一种简易、低成本的误码测试系统。系统由Si5040、ADμC7020和虚拟仪器Lab Windows／CVI组成。Si5040具有可编程的伪随机码比特流生成和比较功能，读出误码值，通过ADμC7020计算得到误码率，并通过I^2C接口与Lab Windows／CVI构成的上位机进行通信。