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提出了一种测量三维面形的新方法。将随机数字散斑投影到参考平面上 ,深度方向等间距平移参考平面 ,用CCD摄取时间序列散斑参考集R(t)。然后用被测物体取代参考平面 ,获取物体调制散斑图像O。O中的任意子图像O(x ,y)与参考平面簇中对应位置的时间序列子图像R(x ,y ;t)之间的交叉相关值曲线呈高斯分布 ,其峰值位置就是被测物点的高度。该方法摆脱了以前数字散斑测量法水平相关思路 ,是真正的时间序列相关方法 ;且原理简单 ,测量精度高 ,不需要复杂的相位展开和校准过程 ,特别适用于测量突变面形和空