薄膜表面的分形特征

• 作 者: 汤晓明 魏赛珍 毛祖遂 李海洋 陈晓峰 郑永铭
• 机 构: 浙江大学物理系!杭州,310027,浙江大学物理系!杭州,310027,浙江大学物理系!杭州,310027,浙江大学物理系!杭州,310027,中国工程物理研究院高温高密度等离子体物理实验室!成都,6
• 出 处: 物理化学学报
• 发表日期: 1999年05期

在计算机上用随机数相加的方法产生了一个分形表面，对这个表面的模拟测量表明，z方向分辨率变化对分形维数测量结果影响很小，x、y方向分辨率降低时会导致测量结果统计误差增大用扫描隧道显微镜（STM）测量了沉积在三种不同基底上的Au膜的分形维数．测得Au／陶瓷的分形维数D＝2.15，Au／光学玻璃的分形维数D＝2.06．Au／载玻片上各点的分形维数较不一致．同时讨论了多图方法中各单图曲线之间不衔接的原因．