VLSI测试生成算法

• 作 者: 石坚 沈森祖
• 机 构: 中船总公司第七研究院第七○九所,中船总公司第七研究院第七○九所 武汉 430074,武汉 430074
• 出 处: 计算机与数字工程
• 发表日期: 1998年01期
• 关键词: 测试生成 ATPG 向量集 测试序列 故障覆盖率 测试向量 控制流 微电子测试 链表 结构描述

本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。

This article discusses the VLSI functional test automatic test generation algorithm, and gives a practical algorithm model.