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新工艺一处理的花键变形全部合格，只要解决了裂纹，这个处理方式就会保证花键变形合格，这样热前花键M值公差可以放大。由于端面定位孔的变化造成裂纹，那么能否采用第三次试验工艺的加热位置来减少过热。还是在新工艺一原位置预热，停顿几秒后回到第三次试验工艺的加热位置开始加热，这样由于端面温度高，塑性好，加热时尺寸膨胀可以向端面移动，由于端面温度高应力小，组织应力可以沿轴向方向释放，冷却时组织转变的应力也可以减少。根据这个思路重新优化了始点感应淬火工艺，这个工艺定为新工艺二，检测涨量在0.010-0.O15mm，检测始点花键硬化层形状。按新工艺二同样处理了30件，回火后检查没有裂纹，花键变形都合格。新工艺二处理的产品，两个端面硬化后的颜色及形状都很类似，由于涨量减少，只要冷加工尺寸控制与原先一样，感应淬火后的尺寸都是合格的。通过多次试验，找出变形的规律及变形的原因，保证了批量生产，减少了公司损失，希望对其他公司有所帮助。