判断金属/薄层半导体欧姆接触质量的一个新方法

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提出了一个判断金属/薄层半导体欧姆接触质量的新方法--环内圆形传输线模型外的支,样品制备简单,无需台面绝缘,测试局域在很小的圆环内无需考虑圆环外的任何边界影响,由于结构的对称性,消除了侧向电流聚集效应,通过测试值的直线拟合消除了部分偶然误差,提高了精度。
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