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电子衍射是晶体结构分析最为常用的实验技术之一，电子衍射花样能直接反映晶体倒易点阵的特征。但利用传统方法对电子衍射花样进行指标化相当耗时、繁杂。为此，本文基于一些常用软件和DM插件对指标化过程中衍射点间距的测量、晶面间距的计算和米勒指数的指认等环节进行实例分析，对指标化过程中的一些常见问题进行可行性讨论，以期实现更为便捷的衍射分析。