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裂缝发育程度在裂缝性地层的研究中非常重要，提出了利用常规测井资料识别裂缝发育程度的新参数和方法，根据裂缝的增加地层的导电性和裂缝性地层电阻率曲线特征，提取反映浅、中、深探测范围内裂缝发育程度的３个参数，即ＳＲ／Ｒxo、ＳＲ^2/(Rxo.R1)和Ｒ^32/（Rt.Ri.Rxo)；在模型样本上确定出非裂缝层的电阻率和以上３参数识别 裂缝发育程度的标准，然后用于识别非模型样本的裂缝发育程度。在新型某油田裂缝性砂砾岩地层的应用表明，效果良好。