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报道多孔硅（ＰＳ）的表面钝化对其光致发光（ＰＬ）和电致发光（ＥＬ）的影响，ＰＬ和ＥＬ谱表明，经钝化处理的ＰＳ的ＰＬ和ＥＬ强度明显增强，且发光峰位较大蓝移；存放实验表明，经钝化处理的ＰＳ的ＰＬ和ＥＬ发光强度和发光峰位具较好的稳定性；Ｉ～Ｖ曲线显示，经钝化处理的ＰＳ发光器件具有较低的劝电压，结结果表明：用钝化处理的方法是几ＰＬ和ＥＬ强度和稳定性及改善器件性能的有效途径。