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由于ＭＣＵ芯片的结构非常复杂，设计时采用一般的从结构出发的可测性设计技术（包括ＤＦＴ和ＢＩＳＴ）将使电路的规模大大增加。根据ＭＣＵ具有指令系统的特点，从功能测试的角度出发，提出了一种在ＭＣＵ设计中加入规模很小的模式选择电路，对部分电路作较小改动就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了可测性设计后进行了仿真。