Evolution of microstructure and texture of cold-drawn polycrystalline Ag with low stacking fault en

• 作 者: MA XiaoGuang CHEN Jian CHEN Zh
• 机 构: StateKeyLaboratoryofSolidificationProcessing,SchoolofMaterialsScienceandChemicalEngineering
• 出 处: 中国科学：技术科学英文版
• 发表日期: 2015年7期
• 关键词: 多晶结构 层错能 织构 透射电子显微镜 电子背散射衍射 演变 组织 银 polycrystalline Ag cold-drawn deformation
• 基金项目: supported by the National Natural Science Foundation of China(Grant Nos.51471123,51171135),the Natural Science Foundation of Shaanxi Province(Grant Nos.2012K07-08,2013KJXX-61),the Industrialization Pr

为拉的多晶的 Ag 的微观结构和质地的进化被传播电子显微镜学和电子 backscattering 衍射调查。结果证明在低紧张有变丑双胞胎和一些解开的分离脱臼。当紧张被增加到 0.58 时，很多高密度脱臼墙和 microbands 形成。同时，一些双胞胎失去 60 杮映畡瑬攠敮杲 y 的 twinning 关系 ?? 吗？？