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本文用分子探针法测定、研究了NiO-Cr_2O_3-SiO_2和NiO-SiO_2催化剂的表面吸附中心结构,且通过逐步溶解分析、X-衍射法、TPD、磁分析等测试方法证实用该法所得结论的正确。表明这是一种研究催化剂表面吸附中心结构的新的有效方法。其特点是能在接近实际的反应条件下,快速、方便地获得催化剂表面吸附中心的结构信息。