用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱

• 作 者: 杨家敏 丁耀南 孙可煦 成金秀 江少恩 郑志坚 张文海
• 机 构: 中国工程物理研究院西南核物理与化学研究所,绵阳市919信息216分箱,绵阳,621900
• 出 处: 物理学报
• 发表日期: 2000年4期
• 关键词: 透射光栅谱仪 系统测量 金箔靶 线能谱 射线 金等离子体 激光装置 激光辐照 辐射结构 测量结果 能谱仪 辐射谱 星光 厚度 发射 波长

在星光激光装置上利用波长为0.35 μm的激光辐照金箔靶,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线charge coupled device系统测量了其发射的软X射线能谱,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较,获得了比较一致的结果.测量结果表明 ,0.17 μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射谱,具有明显的金等离子体N带和O带辐射结构.