基于折叠集的低功耗测试

• 作 者: 祝沈财 蒋翠云 梁华国 叶益群 张念
• 机 构: 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥工业大学理学院
• 出 处: 计算机应用
• 发表日期: 2007年12期
• 关键词: 编码 低功耗 折叠计数器 折叠种子 encode low power folding counter folding seed

提出了一种利用折叠计数器特点,基于完全测试集的低功耗测试方案。方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障,然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量。在硬件上,采用一个地址计数器和随机访问扫描(RAS)结构相结合实现了并行的折叠控制。与传统的混合测试模式相比,克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题。实验结果表明,该方案能够有效降低测试功耗和测试时间。