新生儿缺血缺氧性脑病的CT诊断

• 作 者: 张世斌
• 机 构: 河南省罗山县人民医院放射科,
• 出 处: 中国实用医药
• 发表日期: 2007年25期
• 关键词: 新生儿窒息 缺血缺氧性脑病 严重并发症 围生期窒息 缺氧性损害 诊断 常见病 致残 症状 远期 死亡 临床 检查 报告

新生儿缺血缺氧性脑病(Hypoxic Ischemic Encephalopa-thy,HIE)是指在围生期窒息导致新生儿脑的缺血缺氧性损害,是新生儿窒息后的严重并发症,临床上出现一系列脑病的症状。HIE是新生儿常见病,也是目前新生儿死亡及远期致残的主要原因[1]。CT检查简便、快捷,为诊断HIE提供了可靠

Hypoxic Ischemic Encephalopathy (HIE) refers to the perinatal asphyxia resulting in neonatal hypoxic ischemic brain damage, neonatal asphyxia is a serious complication, the clinical occurrence of a Series encephalopathy symptoms. HIE is a common neonatal disease, is also the main cause of neonatal death and long-term disability [1]. CT examination is simple, fast, provides a reliable diagnosis of HIE