溴化分离-电感耦合等离子体质谱法测定高纯锡中的16种杂质元素

• 作 者: 魏建军 郎春燕 林龙飞 郑林 李佳宣
• 机 构: 成都理工大学材料与化学化工学院应用化学系,四川阿波罗太阳能科技有限责任公司,中国海洋大学地求科学院
• 出 处: 分析化学
• 发表日期: 2013年6期
• 关键词: 电感耦合等离子体质谱 高纯锡 溴化分离 杂质元素 Inductively coupled plasma mass spectrometry High purit

高纯锡样品经HCl和H2O2消解,HBr挥发分离,去除基体Sn,采用电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）法测定其中的16中杂质元素。通过溴化分离基体锡,有效克服了基体对所测杂质元素的干扰和对仪器进样系统的污染。在选定的实验条件下,方法检出限（3σ）介于0.001～0.004μg/g之间;相对标准偏差（RSD）为2.3%～5.6%;加标回收率在95.2%～103.6%范围内。本方法简单实用,能够满足纯度为99.99%和99.999%的高纯锡中16种杂质元素的测定要求。