平面工艺制备硅辐射探测器

来源 :中国原子能科学研究院年报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tyftongyunfeng
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平面工艺制备半导体探测器始子六十年代,但因工艺复杂,需要的设备多,探测器的性能也不很突出,因此进展缓慢,各领域使用的硅探测器大多是用面垒、扩散和一般离子注入工艺制造的。最近几年国外更换了老产品,用平面工艺来制备带电粒子、γ和X射线、位置灵敏、兰光以及紫外光等探测器。这种探测器发展很快,并具有如下优点。 However, due to the complexity of the process, many devices are needed and the performance of the detector is not very prominent. Therefore, the progress of the semiconductor detector is slow. The silicon detectors used in various fields mostly use surface barrier, diffusion and General ion implantation process. In recent years, foreign countries have replaced old products with plane technology to produce charged particles, γ and X-rays, position sensitive detectors, blue light and ultraviolet light detectors. This detector has developed rapidly and has the following advantages.
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