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分析和研究梯形取样鉴相频率合成器环的分岔现象，根据 Ushio 与 Hira 等人的方法, 从理论上证明了当系统参数满足一定条件时，系统会出现分岔现象，具体计算出系统在各个不动点处的 Hopf 分岔集，给出了分岔与系统参数的关系式，揭示了分岔与系统参数的内在联系；最后通过计算系统的李雅普诺夫指数以及豪斯道夫维数，进一步验证了梯形取样鉴相频率合成器环中混沌现象的存在性。