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本文采用在金刚石表面蒸镀铝电极的方法测量金刚石膜的电阻率.样品的Raman,SEM,XRD分析结果表明,金刚石膜的电阻率与晶粒尺度、晶粒取向和缺陷及杂质有直接关系,大尺度晶粒的金刚石膜具有较高的电阻率,高比例的I(110)/I(111)晶粒取向的金刚石膜具有较高的电阻率;结构缺陷和杂质含量较小的金刚石膜具有较高的电阻率.