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分析了光栅单色仪对测量的影响及使用中注意的问题，用以指导测量半导体激光器镀减反射膜前后的自发辐射谱。通过比较同一电流下的两张谱图，可以在几十纳米的波长范围内确定行波式半导体激光放大器端面的剩余模式反射率，并获得了低于３×１０＾－５的极低反射率。在３４Ｍｂ／ｓ的速度下，实测行波放大器的光纤至光纤净增益为１５ｄＢ，放大器自身增益超过２５ｄＢ。