论文部分内容阅读
本文首先简要介绍几种最近开发的非接触电气检测技术的基本原理，而后对DFT（Design for Testability/可测性设计）的具体方式BIST(Built-in selftest/板内自测试）、边界扫描法及SCTTT法（Static Component Interconnection Test Technology)等非接触电气检测的具体方法进行了详细论述。