耦合条件的MC/DC测试用例集生成算法

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MC/DC是一套航电A级软件的测试覆盖性准则,可以有效减少测试用例量.针对如何快速获取尽可能小的测试用例集这一难点展开研究,重点关注于具有耦合条件的逻辑表达式,提出了两套解决方案,分别用于解决零耦合/弱耦合条件和强耦合条件问题,并给出了示例证明.结果表明,灵活使用两套算法,可以全面解决一般逻辑表达式的MC/DC测试用例集的快速生成问题.
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