论文部分内容阅读
聚酰亚胺（PI）／无机纳米杂化材料具有良好的电绝缘性、优异的机械性能以及高耐热等特性，广泛地应用于电气电子领域。本文利用同步辐射小角X射线散射（SAXS）技术对聚酰亚胺纳米杂化薄膜（Al2O3/PI）进行微观结构分析，结合透射电子显微镜（TEM）测试的结果，研究了杂化薄膜中无机纳米颗粒的特性。研究结果表明，无机纳米颗粒尺寸约为4-7nm，纳米颗粒与基体之间具有明锐的界面，薄膜体系分形维数为2．48。