【摘 要】
:
科技创新的意识对于人一生的发展来讲都有着十分重要的影响,正因如此,必须要在幼儿教育阶段就给予科技创新意识的培养。科学是建立在探究的基础之上的,而在幼儿园之中开展有效的科学教育对于进一步培养幼儿们的科技创新意识有着积极的推动作用,其实际意义是不容忽视的。在幼儿园实际开展科学教育工作的过程中,首先要进一步加强教师队伍整体的科技创新精神,从教师队伍整体形象出发对幼儿形成有效的影响;从另一角度来看就是必须
论文部分内容阅读
科技创新的意识对于人一生的发展来讲都有着十分重要的影响,正因如此,必须要在幼儿教育阶段就给予科技创新意识的培养。科学是建立在探究的基础之上的,而在幼儿园之中开展有效的科学教育对于进一步培养幼儿们的科技创新意识有着积极的推动作用,其实际意义是不容忽视的。在幼儿园实际开展科学教育工作的过程中,首先要进一步加强教师队伍整体的科技创新精神,从教师队伍整体形象出发对幼儿形成有效的影响;从另一角度来看就是必须要为幼儿提供足够的动手操作机会,通过这种方式来有效地提升幼儿的科技创新意识。
其他文献
本文选取2009-2019年我国30个省份的面板数据,构建空间Moran’s I指数对数字经济与消费升级的空间自相关性进行了分析,进一步讨论了消费升级的空间集聚特征,在此基础上利用空间计量模型实证分析了数字经济对消费升级的空间影响效应。结果表明:数字经济与消费升级均存在着明显的空间自相关性,东部消费升级的空间集聚特征较为明显,中部消费升级的空间集聚水平相对较低,西部消费升级的空间集聚水平呈现出下降
近年来,中国数字技术在一些关键领域不断取得突破,政府和企业的数字化转型持续推进,推动着中国数字经济规模稳步增长,为中国数字贸易的规模扩展和结构优化提供了坚实的发展基础和新的竞争优势。数字贸易、数字技术与数字经济三者协同发展,将更好地促进数字贸易对象多元化和内容丰富化,进而提升数字贸易的效率效益。同时,数字贸易各参与主体的协同关系、数字贸易供给端与需求端的协同关系以及数字贸易与企业技术创新的协同关系
组网雷达系统利用通信手段,使得网内的雷达实现了信息共享与互联互通,给当代雷达电子对抗带来了巨大的挑战。现在在组网雷达对抗技术方面的研究,主要是针对组网雷达系统的干扰,而很少有研究组网雷达侦察识别方面的文章或期刊。组网雷达中的各雷达相互关联,如果要对组网雷达实施有效攻击,就必然要弄清网内各雷达之间的关系。雷达组网方式包含了雷达网内各雷达之间的通信传输关系;另外,通过分析雷达的组网方式可以得出组网雷达
随着世界集成电路产业的不断发展,各种集成电路设备对于存储器的要求也越来越高。传统存储器一般分为非易失性存储和易失性两种,非易失性存储一般具有高速读写的特点但数据断电不可保留,易失性存储则与之相反。几乎没有一种传统存储器可以兼顾两种优点,但是近年来随着对存储技术的研究不断深入涌现出一批新型存储器。在这些存储器中应用前景比较明朗的一款是MRAM(Magnetic Random Access Memor
为有效保障既有铁路运营安全和解决新建隧道施工安全难题,依托新建隧道洞口段下穿铁路路基特殊工况,采用工程类比法提出一种管幕施工下穿铁路路基施工工法,主要涉及管幕施作、隧道开挖2个工艺,简单介绍基坑开挖、反力墙和导向墙施作、掌子面超前支护等该工法的前期工作,并深入分析探讨了管幕施作流程、精确顶进、管内注浆、隧道开挖、隧道支护等重点工序和关键技术。最后分析总结监测结果,认为该下穿施工工法具有安全实用性:
在事业单位改革持续深化的情况下,如何进一步做好人力资源管理工作以及思政工作的融合成为事业单位管理领域的一个重要课题。随着时代的不断发展,事业单位人力资源管理工作与思政工作的重要性不断凸显,考虑到两项工作在目的、内容等方面有重叠,因此采取有效措施来将两项工作加以融合,这自然成为事业单位做好上述工作的理性选择。本文在对于事业单位人力资源管理与思政工作融合必要性进行探讨的基础之上,结合自己的理解提出了事
本研究基于压力认知评价理论和COR理论,探讨了以高级算法为支撑的绩效管理方式给零工造成的绩效压力如何影响其工作绩效。通过对342份问卷数据的实证分析,结果发现:绩效压力与零工工作投入、工作绩效之间呈显著倒U形关系;工作投入在绩效压力与工作绩效之间发挥完全中介效应;心理资本显著正向调节绩效压力与工作投入之间的倒U形关系。
新自由主义随着改革开放的大潮传入我国,它否定公有制和社会主义,宣扬绝对的自由,对大学生的思想、观念都产生了冲击。本论文阐明了新自由主义的本质,并分析了在多媒体时代,它的主要传播途径及对大学生价值观产生的影响和消除新自由主义不良影响的方法。
集成电路制造工艺的不断提高,推动着芯片设计的飞速发展,使得芯片内部的集成度越来越高、接口的通信速度越来越快。但同时,复杂的电路对测试覆盖率的要求也在增加,尽管IP(Intellectual Property)复用的设计技术能加快SoC的开发过程,但随着单个芯片上集成数目的增多,SoC的规模、复杂度直线上升,导致SoC测试面临着巨大的挑战。为了保证芯片的质量必须加大测试覆盖率;而另一方面为了控制芯片