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根据行波管用的关键材料-钨铼合金中高含量铼测定的需求, 研究了用X射线荧光(XRF)光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响, 从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因. 理论和实验结果均表明: 直接用Re Lα分析线强度绘制的校正曲线比二元比例法可以获得更好的线性. 本法具有快速准确的特点, 分析结果与化学方法一致, 在生产控制中应用效果显著.