光纤用四氯化锗含氢杂质的测定方法

• 作 者: 李贺成 刘建平
• 机 构: 北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院北京100088,北京100088
• 出 处: 分析试验室
• 发表日期: 1992年06期
• 关键词: 光纤用四氯化锗 氢测定 红外光谱 吸光系数

用红外光谱法测定光纤用GeCl₄中的含氢杂质。研究了OH、CH和HCI消光系数的测定方法。实验所用的OH、CH和HCl标准溶液的制备方法,是制备一组溶解于液体GeCl4的H₂O（溶于CCl₄）、CH₃OH和HCl（气）的样品,并测定它们的红外谱(4000～15000cm^-1)。OH、CH和HCl的摩尔吸光系数的实验结果分别为:141.2(2605cm^-1)、24.4(2940cm^-1)和21.9(2845cm^-1)L/mol·cm。