热损伤温度对新生SD大鼠下丘脑神经元膜上ATP激活单通道活动的影响

• 作 者: 蔡春青 邹飞 罗炳德
• 机 构: 第一军医大学高温医学研究室广州510515
• 出 处: 中国公共卫生
• 发表日期: 2001年1期
• 关键词: 温度 ATP 激活单通道 下丘脑神经元 热损伤 病理 temperaturedelayed rectifier K+ channelhypothalamic n
• 基金项目: 国家自然科学基金，军队基金

目的观察下丘脑神经元经热损伤温度(42℃)处理后ATP激活单通道的变化.方法采用膜片钳技术的细胞贴附记录模式,记录通道的活动动力学.结果发现经高温处理后,新生SD大鼠ATP激活单通道的长时程开放时间常数(τ02)、开放概率(P0)降低(P＜0.05),通道在膜上的数量和密度降低.结论热损伤可以影响ATP激活单通道的活动.