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作者用体单晶样品研究了InSb在交叉电场和磁场下的带-带发光并报导了在MCE(磁浓度效应)条件下异质外延p-InSb薄层的带-带发光研究结果,对用体单晶制备样品的测量结果进行了对比。为了获得显著的MCE,薄半导体板的相应表面应具有明显不同的表面复合速率。在有较大晶格常数差的绝缘衬底上生长的异质外延半导体薄层可显示出这种特性。这种薄层是采用高真空热蒸发凝聚技术在半绝缘GaAs衬底上生长的,衬底的取向为(100),厚度为350μm。8μm厚的外延InSb薄层呈现出单晶结构和镜面晶格常数的极大不同(～14％)导