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激光测量壳体包覆层厚度比传统的包覆层厚度测量有很多优点，本文介绍了激光测量包覆层厚度的方法。该方法用于测量壳体内壁涂敷的包覆层厚度，壳体内壁包覆层太薄或太厚都会影响器件的正常工作，包覆层的厚度和密度决定了元件的性能。而包覆层的厚度和密度均可通过精确测量其尺寸和质量来获得，因此，精确测量包覆层尺寸至关重要．因此，应对包覆层的厚度进行测量，以免影响其正常工作。