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近年来,对地和行星遥感应用的需要,一种新型仪器已经脱颖而出,通常称为成像光谱仪。这种仪器的价值和优势日益增长,因为这些仪器通过光谱特性能直接识别表层材料特性。文中结合这类仪器的发展,介绍了它们的设计和工艺上的一些问题。主要介绍了三台典型的仪器:AVIRIS仪、HIRIS仪和VIMS仪,叙述了它们的设计要点,以及它们的技术发展阶段和技术难点。