降膜波动特性的研究

• 作 者: 陈丰秋 高峰 等
• 机 构: 浙江大学化工系,浙江大学化工系
• 出 处: 化学反应工程与工艺
• 发表日期: 1990年1期
• 关键词: 湍流降膜 双电导探针法 膜厚 概率密度分布 波动特性 传质 传热 Falling film Dual cctivity probe PDF of film

本文提出了一种测定膜厚的新方法－双电导探针法，测定了高湍流降膜的厚度沿降膜管管程的变化情况，探讨了径向平均膜厚及膜厚的概率密度分布沿管程的变化规律，证明降膜的波动特性同时受到液相雷诺数和管程的影响。并对平均膜厚和液相雷诺数作了经验关联，得出NT＝（δ^+)^2/3+[8.92(ReL/4)^5/2+6.0×10^-6(ReL/4)^9/2]^2/15。