数字集成电路测试生成的一种专家系统方法

• 作 者: 冉蜀阳
• 机 构: 电子科技大学自动化系,电子科技大学自动化系成都610054,成都610054
• 出 处: 电子科技大学学报
• 发表日期: 1993年4期
• 关键词: 决策图 数字电路 测试 专家系统 graph binary decision diagram test generation digital circui
• 基金项目: 国家八五科技攻关基金

介绍了两种基于压缩二分决策图(BDD:Binary Dccision Diagram)并由压缩的BDD来进行测试生成的启发性方法,即临界二分树(CBT:Critical Binary Tree)和节点分决函数(ndf:node psrtition function)方法,它们虽然并不一定是最小化BDD,但它们减小了BDD,从而在专家系统环境下得以对大型数字系统进行测试。