Comparison between Top and Bottom NiO-pinning Spin Valves： Effect of Interfacial Roughness on Specul

• 作 者: Liang SUN Jun DU Xiaoshan WU S
• 机 构: NationalLaboratoryofSolidStateMicrostructures,StateKeyLaboratoryforSurfacePhysics,DepartmentofPhysic
• 出 处: 材料科学技术学报：英文版
• 发表日期: 2006年3期
• 关键词: 螺旋电子管 镜面反射 界面粗糙度 氧化镍 Spin valve Specular reflection Interfacial roughness
• 基金项目: This work was supported by the National Natural Science Foundation of China （Grant No. 10174014, 60271013, 10321003, and 60490290）, and the State Key Project of Fundamental Research （No. 001CB610602 a

顶和 Si/Ta/NiO/Co/Cu/Co/Ta andSi/Ta/Co/Cu/Co/NiO/Ta 的底部卡住 NiO 旋转阀门被磁控管劈啪作响，和 X 光检查衍射准备，巨大的磁致电阻(GMR ) 比率从 5 ～ 300 K 在温度范围被测量。为底部大头针阀门，在 NiO/Co 的界面的粗糙是比在最高的 Co/NiO 的小得多的。Co/Cu 和 Cu/Co 接口在底部和最高的旋转阀门有一样的粗糙。(111 ) NiO，公司，和 Cu 层在底部在最高的和随机的取向比较喜欢取向一个。底部旋转阀门的 GMR 比