是德科技推出针对 DDR4×16设计的逻辑分析仪B GA 内插器探测解决方案

• 出 处: 国外电子测量技术
• 发表日期: 2015年8期
• 关键词: 科技 设计调试 逻辑分析仪 内插器 探测 动态随机存取存储器 解决方案 栅格阵列 数据信号 设计测试 功能验证 工程师 子集 球形 命令 测量 捕获

2015年8月13日，是德科技公司（NYSE：KEYS）宣布推出配合逻辑分析仪执行DDR4×16 DRAM （动态随机存取存储器）设计测试的全新BGA （球形栅格阵列）内插器解决方案。借助 Keysight W4636ADDR4×16 BGA内插器解决方案，工程师能够快速且精确地捕获地址、命令信号和数据信号子集，以完成高达2400 M b／s的设计调试和功能验证测量。