【摘 要】
:
为在不同散布表面拖拉下面的击碎的圆形的磁盘的压力紧张因素(SIF ) 与放大边界被评估有限元素方法(SBFEM ) 。在 SBFEM,在光线的方向的答案的分析优点允许 SIF 从它的定义直
【机 构】
:
FacultyofInfrastructureEngineering,SchoolofArchitecture&,CivilEngineering
【基金项目】
:
The present research work was financially supported by the National Natural Youth Foundation of China (Grant Nos. 51109134, 51009019, 11102118 and 51208310), the Liaoning Province Education Administra