论文部分内容阅读
采用改进的共沉淀法合成掺杂Al、Mg的LiNi1/3Co1/3Mn1/3O2系列材料，通过X射线衍射光谱法（XRD）、扫描电子显微镜法（SEM）、伏安法（CV）、充放电测试、交流阻抗等技术对材料进行了表征，比较了掺杂元素（Al、Mg）对电化学性能的影响。在2．8～4．3V，0．1C倍率下未掺杂材料的首次放电比容量达171．1mAh／g，循环10次后为1522mAh／g，掺杂Al、Mg后容量有所下降，但循环性能得到改善，前10次容量衰减分别为2．5％、3.3％。采用Voigt模型对交流阻抗谱进行拟合，比较了