线吸收系数能谱效应解析法研究

• 作 者: 刘进 刘军 李必勇 施将君
• 机 构: 中国工程物理研究院
• 出 处: 强激光与粒子束
• 发表日期: 2004年10期
• 关键词: 闪光照相 有效线吸收系数 谱硬化 解析法 Radiography Efficient linear attenuation coefficient Spec
• 基金项目: 国防科技应用基础研究基金

用数值模拟的方法研究了FTO客体材料的线吸收系数随着穿透材料深度的变化关系,并拟合出材料有效线吸收系数与厚度之间的函数表达式.研究结果表明,在闪光照相中X光能谱发生了硬化,并随着穿透材料深度的增加谱平均线吸收系数会随之减小.FTO客体中钨的平均有效线吸收系数O.838(4.53%)cm-1,铜的平均有效线吸收系数O.297(4.96%)cm-1,能谱效应对有效线吸收系数的影响小于5%.在图像重建中利用上述的线吸收系数能够反演出精度达5%的材料密度.