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<正> 扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy,简称STM)是八十年代初发展起来的研究物质表面结构的新型显微镜和表面分析仪器。它不仅使我们的视野延伸到了原子的尺度,同时也打开了许多广阔的研究与应用领域。它是由IBM苏黎世实验室的G. Binnig和H. Rohrer等人发明的。1981年他们研制成第一代STM,1983年用它首次得到了实空间的Si(111)7×7重构表面的原子分辨图像,从而轰动了科学界。G. Binnig和H. Rohrer也因做出