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采用光电流负反馈技术,分别在半导体发光/激光器件和可调谐染料激光中产生并观察到压缩量为-13dB,-14.8dB和-8.9dB的闭环光电流噪声压缩。这些实验结果均已突破由量子破坏性测量所给出的理论极限,为传统的量子测量理论所无法解释。文章采用光电流或光场反相关态的概念,正确解释了这一实现现象。