功能性影像技术在弱视研究中的进展

• 作 者: 梁平 王秦令
• 机 构: 深圳职业技术学院,眼视光技术专业,广东,深圳,518055,南京医科大学第一附属医院,眼科,江苏,南京,210029
• 出 处: 中华眼视光学与视觉科学杂志
• 发表日期: 2006年8期
• 关键词: 弱纵病因学 中枢功能性 脑磁图描记术 体层 摄影术 发射型计算机 单光子 正电子发射断层显像术 磁共振成像 amblyopia/etiology central

利用影像学中功能性神经影像技术研究弱视的发病机制是近几年新兴的技术,它的发展将有关弱视发病机制的研究向前推进了一大步.现在的脑功能成像技术包括脑磁图(magnetoencephalography,MEG)、单光子发射计算机断层显像(single photon emission computed tomography,SPECT)、正电子发射型计算机断层显像(positron emission tomography,PET)以及功能磁共振(functional magnetic resonance imaging,fMRI)等.研究发现弱视患者的中枢的各项技术检测指标和正常人相比具有一定差异,袁明这些技术对于弱视中枢的研究具有一定价值,其应用是切实可行的,但现有的功能性神经影像技术还不能精确定位弱视中枢,现对这些影像技术作一综述。