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采用正硅酸乙酯（TEOS）水解法在羟基磷灰石粉体表面包覆SiO2进行表面改性,并通过扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）、X射线衍射（XRD）、红外（FT-IR）、zeta电位和沉降实验等对样品的晶体结构、颗粒形貌进行了表征,结果表明涂层厚度约为3nm,包覆后的纳米粒子在水溶液中的胶体稳定性提高了5倍,SiO2在羟基磷灰石表面的吸附符合异质凝结机制。