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SPRITE探测器的电阻是一个重要的器件参数。研究了Hg1-xCdxTe材料组分和电阻率、芯片厚度和表面电导等因素对该电阻的影响,并就实验数据进行了比较结果表明:SPRITE器件的室温电阻主要是受Hg1-xCdxTe材料组份和芯片厚度的影响。而其液氮温度电阻则主要是受芯片表面电导的影响。