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期刊论文
SOC测试结构优化研究
SOC测试结构优化研究
来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cj76680978
【摘 要】
:
结合SOC测试结构的特点,采用量子进化算法对SOC测试结构进行优化。通过对量子进化算法中群体尺寸、旋转角度的合适设定,达到减少SOC测试所用时间的目的。针对国际SOC标准电路验
【作 者】
:
许川佩
王征
黄青萍
【机 构】
:
桂林电子科技大学电子工程学院,桂林师范高等专科学校物理系
【出 处】
:
半导体技术
【发表日期】
:
2007年6期
【关键词】
:
量子进化算法
测试结构
系统芯片
量子门
quantum-inspired evolutionary algorithm
test architecture
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结合SOC测试结构的特点,采用量子进化算法对SOC测试结构进行优化。通过对量子进化算法中群体尺寸、旋转角度的合适设定,达到减少SOC测试所用时间的目的。针对国际SOC标准电路验证表明,与同类算法相比,该算法能够获得较短的测试时间。
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